Следите за нами в социальных сетях:

Единая отраслевая платформа по электронике, микроэлектронике и новым технологиям
我们在俄罗斯为中国公司做广告
Новости электроники и микроэлектроники
Приглашаем подписаться на наш telegram-канал https://t.me/IndustryHunter, где мы публикуем новости, перепосты важных сообщений от ассоциаций и наших информационных партнеров, анонсы ближайших событий и многое другое

АО «НИИЭТ» выпустил испытательный стенд «СИТ-30» с улучшенным функционалом

| 667

АО «НИИЭТ», исходя из опыта создания двух стендов для собственных нужд предприятия, разработал испытательный стенд для термоэлектротренировки и испытаний на сохранение работоспособности ЭКБ «СИТ».

По сравнению с прошлыми вариантами АО «НИИЭТ» улучшил функциональные характеристики оборудования. Доработался блок управления режимами, теперь все настройки находятся на сенсорной панели, возможно записать настройки для определенного типа исследуемого прибора, после чего все источники переведутся на заданный режим. По-прежнему возможна установка разных приборов на один и тот же стенд используя одну из зон.

Также модернизирована сама конструкция стенда: представлена возможность закрывать оборудование с обеих сторон дверьми, нет выступающих деталей.

Стенд «СИТ-30» производства АО «НИИЭТ» рассчитан на одновременное испытание 30 изделий в режимах статической и динамической электрической нагрузки.

Помимо отбраковочных испытаний при изготовлении изделий, к которым предъявляются особые требования к качеству и надежности, характерные, например, для космической отрасли, благодаря высокой точности и широкому диапазону задания параметров тепловой и электрической нагрузки и возможности контроля температурного режима каждого компонента в отдельности стенды «СИТ» могут применяться для испытаний опытных образцов вновь разрабатываемых электронных компонентов, определения предельных режимов работы, а также для испытаний компонентной базы для таких областей применения, как автомобильная электроника, медицинская техника, промышленная автоматика и т. п. Стенды могут использоваться для испытаний под нагрузкой не только дискретных компонентов, но и микросхем с повышенным тепловыделением, например усилителей или ИС источников питания.

В настоящее время АО «НИИЭТ» принимает заявки на изготовление стендов испытаний транзисторов и автоматических камер теплового удара. Сделать заявку на поставку и узнать более подробную информацию об оборудовании можно на сайте производителя АО «НИИЭТ».

 

 

Источник: пресс-служба АО «НИИЭТ»

 

Подписаться на рассылку

Вернуться к ленте новостей