Практический семинар: "Параметрическое тестирование полупроводниковых устройств"
Москва
7 ноября 2019 г.
Компания Keysight Technologies приглашает Вас на семинар-практикум "Параметрическое тестирование полупроводниковых устройств", который состоится 7 ноября в Москве.
Программа семинара состоит из двух параллельных сессий и включает доклады технических экспертов Keysight Technologies и партнеров: FormFactor, НТНК и Maury Microwave.
Специальными гостями семинара будут эксперты компании FormFactor - Штефен Грауэр и Гэвин Фишер, которые выступят с докладами о решениях для измерения параметров полупроводниковых устройств на пластине, в том числе для испытаний изделий на основе GaN и SiC.
Сессия 1. Тестирование СВЧ полупроводниковых приборов, анализ параметров материалов
Сессия 2. Тестирование полупроводниковых устройств по постоянному току, измерение параметров ВАХ и ВФХ
Пожалуйста, укажите в заявке, что вы узнали о мероприятии на сайте Industry-hunter.com. +++ всем в карму!)