Новости электроники и микроэлектроники

Приглашаем подписаться на наш telegram-канал https://t.me/IndustryHunter, где мы публикуем новости, перепосты важных сообщений от ассоциаций и наших информационных партнеров, анонсы ближайших событий и многое другое

Срок годности для компонентов: в РКС разрабатываются новые методики испытаний

15 февр. 2019 г., 17:00 | 761

Эффективность работы спутников и их аппаратуры на орбите напрямую зависит от надежности и длительности функционирования электронных компонентов. Разработка новой, более совершенной методики для оценки срока работы компонентов с учетом времени хранения их на складах – цель научной работы аспиранта, инженера-исследователя 3 категории Научного центра сертификации элементов и оборудования (НЦ СЭО) «Российских космических систем» Олега Юшина.

Прежде чем стать частью аппаратуры для спутников, микроэлектроника испытывается в НЦ СЭО. Однако есть свойства, которые трудно оценить, в частности – сохраняемость. В момент испытания компонент работает, но как понять, будет ли он работать после хранения в течение пяти, десяти, пятнадцати лет?

Над проблемой создания научного аппарата для подтверждения длительных сроков сохраняемости компонентов и работает Олег Юшин в рамках обучения в аспирантуре РКС. Его диссертация посвящена методике оценки сохраняемости электронных компонентов ракетно-космической техники на основе физико-математических моделей их отказов.

«Для построения таких моделей для компонентов создаются особые условия испытаний – увеличивается температура, влажность, меняются другие параметры, – поясняет Олег Юшин. – При этом отслеживается деградация параметров компонентов – например, сопротивление резистора. За полгода хранения ЭКБ в экстремальных условиях можно спрогнозировать, что будет происходить с компонентами в течение 20 лет при менее жестких условиях».

Олег Юшин – выпускник МИФИ, работает в РКС с 2016 года. Сегодня в научной работе ему помогают научный руководитель – доцент, инженер-исследователь 1-й категории Алексей Савин – и сотрудники отдела испытаний сверхбольших интегральных микросхем.

«Тема научного исследования Олега Юшина напрямую связана с направлением его работы, – рассказывает начальник сектора разработки средств контроля СБИС и сертификационных испытаний ЭКБ Алексей Скрипников. – Он участвует в разработке методик испытаний, которые должны подтвердить пригодность электронных компонентов к использованию».

____________________

Источник: http://russianspacesystems.ru

Подписаться на рассылку

Вернуться к ленте новостей

События