Вебинар по JTAG-технологиям тестирования плат
Онлайн
25 марта 2021 г.
Внедрение периферийного сканирования, начиная с самого раннего этапа – разработки, а, может быть, и технического задания, позволяет снизить затраты на разработку аппаратуры и встроенного ПО, затраты на производство, комплектующие и оборудование и усовершенствовать гарантийное и постгарантийное обслуживание. Как это происходит, будет постепенно рассказано на наших вебинарах.
Добавим к этому то, что сложное цифровое устройство сегодня практически не возможно произвести без дефекта пайки, функциональный тест не обнаруживает значительную долю таких дефектов, давая нам иллюзию полной исправности платы. Периферийное сканирование – это единственный из современных методов структурного электрического тестирования, локализующий неисправности на платах с высокой плотностью монтажа, не зависящий от используемых типов корпусов компонентов (QFN, BGA, CSP, PoP и т.д.).
Построение эффективной тестовой стратегии для цифровых изделий. 25.03.2021, 15:00 МСК
Как правильно построить эффективную и недорогую систему тестирования на производстве? Какой метод выбрать или же какие совместить между собой в одной установке? На данном вебинаре мы рассмотрим различные аспекты применения периферийного сканирования на серийном производстве. Тестовая система может быть отдельной, или интегрированной в другие. При этом возникают вопросы, связанные с аппаратной и программной интеграцией. Время тестирования и программирования изделий также может быть на крупном производстве немаловажным фактором: мы расскажем как управлять этим параметром.
Ссылка на регистрацию:
https://attendee.gotowebinar.com/register/4182863702062827275
Более подробная информация о мероприятии: https://www.jtag.com/ru/webinars/
Industry Hunter
только что
